產(chǎn)品中心
PRODUCTS CENTER
當(dāng)前位置：首頁(yè)
產(chǎn)品中心精密電工儀表多路電阻測(cè)試儀
產(chǎn)品分類
相關(guān)文章
HPS5120精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù)，很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差。
更新時(shí)間：2025-05-11
產(chǎn)品型號(hào)：
瀏覽量：2575
HPS2510-16精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù)，很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差
更新時(shí)間：2025-05-11產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1245HPS5112精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù)，很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差。
更新時(shí)間：2025-05-11產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1332HPS5110精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù)，很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差。
更新時(shí)間：2025-05-11產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1152HPS2510-8精密多路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù)，很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差。
更新時(shí)間：2025-05-11產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1524HPS5106六路電阻測(cè)試儀采用高性能ARM微處理器和高密度SMD貼裝工藝，米遠(yuǎn)科技優(yōu)化和創(chuàng)新了測(cè)量技術(shù)，很好地消除了熱電對(duì)被測(cè)元件接觸的影響而引起的潛在誤差.
更新時(shí)間：2025-05-11產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1278
掃碼加微信
Copyright © 2025上海米遠(yuǎn)電氣有限公司 All Rights Reserved 備案號(hào)：滬ICP備15016156號(hào)-1
技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) 管理登錄 sitemap.xml
